工学 特定用途IC｜狙った機能に特化した専用チップ
特定用途IC特定用途ICは、ある特定の機能や用途に焦点を絞って設計された集積回路のことで、汎用プロセッサとは異なる独自の回路構成を持つ点が特徴的である。スマートフォンや家電、車載機器などでの高性能化や省電力化の要求が強まる中で、各デバイスに...
量産
工学 工学 組み立て工程｜製造最終段階を体系的に集約
組み立て工程組み立て工程とは、製品の最終形態を得るために個々の部品やモジュールを結合し、動作や外観を完成させる製造プロセスである。半導体や電子機器の分野でも基板実装や筐体組み立てが重要視され、高度化する機能や小型軽量化の要請に応えるべく、自...
工学 E形止め輪｜E字型の薄型リングで軸を固定する締結部品
E形止め輪E形止め輪とは、主に軸やシャフトの溝に装着し、軸方向への動きを制限または防止するために使用される締結部品である。外観はアルファベットのEに似た形状であり、スリットが3か所に入ることで取り付け時に軸溝にスナップさせやすい構造を持つ。...
工学 シリコンフォトニクス｜シリコンを用いた光集積技術
シリコンフォトニクスシリコンフォトニクスとは、半導体材料であるシリコンを用いて光信号を扱う技術であり、従来の電子回路との高い親和性を活かして小型化と高速化を同時に実現しようとする取り組みである。今日ではデータセンターの通信高速化や超低消費電...
工学 ES｜量産前の試作品で性能を精査する
ES（engineering sample）ES（engineering sample）は、半導体デバイスや電子機器などの量産品を製造する前段階に試作されるモデルである。目的は仕様や動作を検証し、最終的な設計を詰めるための評価を行うことであ...
工学 BIST｜回路に組み込まれた自己テスト技術
BIST半導体などの集積回路の大規模化に伴い、故障検出や信頼性の向上を図る技術として注目されているのがBISTである。これはBuilt-In Self Testの略称であり、回路内部にテスト機能を組み込み、外部の測定器に依存せずに故障箇所を...
工学 エンジニアリングサンプル｜量産前に製品精度を検証するための試作モデル
エンジニアリングサンプルエンジニアリングサンプルは、製品開発や評価の各段階で機能性や形状などを検証するために作成される試作モデルを指す。量産前の不具合発見や新技術の適合性確認、搭載部品の動作テストといった多岐にわたる場面で用いられ、最終仕様...
経営 CS（コマーシャルサンプル）｜商業展開を見据えた実機検証
CS（コマーシャルサンプル）CS（コマーシャルサンプル）とは、市場投入を前提とした試作品や限定的な試供品を指す用語である。新製品開発の段階において量産前に実用レベルのサンプルを製作し、取引先や顧客に評価を仰ぎながら最終仕様を確定させる工程で...
工学 歩留り｜製造効率を左右する重要な指標
歩留り半導体の製造工程で、生産効率を示す指標として注目されるのが歩留り（半導体）である。ウェーハ上に多数の回路を形成しても、そのすべてが良品として使えるわけではなく、各工程での微小な欠陥やプロセスばらつきによって不良品が一定の割合で発生する...